СибНСХБ

Вид поиска

Область поиска

Найдено в других БД

Формат представления найденных документов:
библиографическое описание	краткий	полный

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>S=ИСПОЛЬЗОВАНИЕ МЯГКИХ ЭЛЕКТРОНОВ<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

РЖ ВИНИТИ 34 (BI13) 01.02-04Б3.178

Hayashi, Toru.
Decontamination of dry food ingredients with "Soft-electrons" (low-energy electrons) [Text] / Toru Hayashi // JARQ: Jap. Agr. Res. Quart. - 1998. - Vol. 32, N 4. - P293-299 . - ISSN 0021-3551
Перевод заглавия: Деконтаминация ингредиентов сухой пищи с помощью "мягких электронов" (электроны низкой энергии)
Аннотация: Электроны с энергией 300 keV и ниже были определены как "мягкие электроны". Облучение мягкими электронами микроорганизмов на поверхности зерна и ряда видов дегидратированных овощей снижало уровень микробной обсемененности до величин меньших 10 CFU*g{-1}. Мягкие электроны проникали только в поверхностные участки зерен и незначительно разрушали молекулы крахмала внутри зерен. Показано, что использование электронов с высокой энергией и высокой проникающей способностью приводит к высоким значениям содержания тиобарбитуровой к-ты (TBA, параметр липидного окисления) в темном рисе. Дробленый рис при выходе 90% или 88% после обработки электронами (65 keV) демонстрирует такие же значения содержания TBA, как в необлученном рисе. Полагают, что мягкие электроны могут использоваться для деконтаминации ингредиентов сухой пищи, не оказывая какого-либо неблагоприятного воздействия на их качество. Япония, Postharvest Technol. Div., Nat. Food Res. Inst., Tsukuba, Ibaraki, 305-8642. Библ. 12

ГРНТИ	34.27.39

ВИНИТИ 341.27.39.11
Рубрики: ПИЩЕВЫЕ ПРОДУКТЫ
ИНГРЕДИЕНТЫ СУХОЙ ПИЩИ
МИКРОБНОЕ ОБСЕМЕНЕНИЕ
ДЕКОНТАМИНАЦИЯ
ИСПОЛЬЗОВАНИЕ МЯГКИХ ЭЛЕКТРОНОВ
ТИОБАРБИТУРОВАЯ КИСЛОТА
ДЕТЕКЦИЯ СОДЕРЖАНИЯ
РИС

РЖ ВИНИТИ 34 (BI34) 01.06-04Т4.340

Hayashi, Toru.
Decontamination of dry food ingredients with "Soft-electrons" (low-energy electrons) [Text] / Toru Hayashi // JARQ: Jap. Agr. Res. Quart. - 1998. - Vol. 32, N 4. - P293-299 . - ISSN 0021-3551
Перевод заглавия: Деконтаминация ингредиентов сухой пищи с помощью "мягких электронов" (электроны низкой энергии)
Аннотация: Электроны с энергией 300 keV и ниже были определены как "мягкие электроны". Облучение мягкими электронами микроорганизмов на поверхности зерна и ряда видов дегидратированных овощей снижало уровень микробной обсемененности до величин меньших 10 CFU*g{-1}. Мягкие электроны проникали только в поверхностные участки зерен и незначительно разрушали молекулы крахмала внутри зерен. Показано, что использование электронов с высокой энергией и высокой проникающей способностью приводит к высоким значениям содержания тиобарбитуровой к-ты (TBA, параметр липидного окисления) в темном рисе. Дробленый рис при выходе 90% или 88% после обработки электронами (65 keV) демонстрирует такие же значения содержания TBA, как в необлученном рисе. Полагают, что мягкие электроны могут использоваться для деконтаминации ингредиентов сухой пищи, не оказывая какого-либо неблагоприятного воздействия на их качество. Япония, Postharvest Technol. Div., Nat. Food Res. Inst., Tsukuba, Ibaraki, 305-8642. Библ. 12

ГРНТИ	34.47.51

ВИНИТИ 341.47.51.15.11
Рубрики: ПИЩЕВЫЕ ПРОДУКТЫ
ИНГРЕДИЕНТЫ СУХОЙ ПИЩИ
МИКРОБНОЕ ОБСЕМЕНЕНИЕ
ДЕКОНТАМИНАЦИЯ
ИСПОЛЬЗОВАНИЕ МЯГКИХ ЭЛЕКТРОНОВ
ТИОБАРБИТУРОВАЯ КИСЛОТА
ДЕТЕКЦИЯ СОДЕРЖАНИЯ
РИС

"Электронные каталоги и базы данных библиотек СО РАН"

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)

rtvarBDview(" результаты поиска","20190607010228","4682442");

Вид поиска