СибНСХБ

Вид поиска

Область поиска

Найдено в других БД

Формат представления найденных документов:
библиографическое описание	краткий	полный

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>S=РЕГУЛИРУЕМЫЕ ДИАФРАГМЫ<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

Патент 6935778 Соединенные Штаты Америки, МКИ A61B 6/08.

Bievenue, Thomas J.
Methods and devices for aligning and determining the focusing characteristics of X-ray optics [Текст] / Thomas J. Bievenue, John H. Burdett ; X-Ray Optical Systems Inc. - № 10/764257 ; Заявл. 23.01.2004 ; Опубл. 30.08.2005
Перевод заглавия: Способ и устройство регулировки и определения фокусных характеристик рентгеновской оптики
Аннотация: Патент на технологию регулировки параметров рентгенооптических систем. Цель изобретения - улучшение функциональных характеристик подобных систем, в т. ч. поликапиллярных, за счет обеспечения возможности повышения интенсивности рентгеновского излучения на мишени. Цель достигается путем использования диафрагмы с регулируемой апертурой. Величину апертуры изменяют в соответствии с формой и интенсивностью светового пятна на диафрагме, покрытой флюоресцирующим материалом

ГРНТИ	34.49.27

ВИНИТИ 341.49.27.17
Рубрики: РЕНТГЕНОВСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ
РЕНТГЕНООПТИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ
ФОКУСНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
РЕГУЛИРУЕМЫЕ ДИАФРАГМЫ
ВИЗУАЛЬНЫЙ КОНТРОЛЬ

Доп.точки доступа:
Burdett, John H.; X-Ray Optical Systems Inc.
Свободных экз. нет

ГРНТИ	34.57.15

ВИНИТИ 341.57.15.99
Рубрики: РЕНТГЕНОВСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ
РЕНТГЕНООПТИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ
ФОКУСНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
РЕГУЛИРУЕМЫЕ ДИАФРАГМЫ
ВИЗУАЛЬНЫЙ КОНТРОЛЬ

Доп.точки доступа:
Burdett, John H.; X-Ray Optical Systems Inc.
Свободных экз. нет

"Электронные каталоги и базы данных библиотек СО РАН"

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)

rtvarBDview(" результаты поиска","20190607010228","4682442");

Вид поиска