СибНСХБ

Вид поиска

Область поиска

Найдено в других БД

Формат представления найденных документов:
библиографическое описание	краткий	полный

Поисковый запрос: (<.>S=НАКЛОННО-ПАРАЛЛЕЛЬНЫЕ ПУЧКИ<.>)

Общее количество найденных документов : 1

Патент 6263040 Соединенные Штаты Америки, МКИ A61B 6/03.

Hsieh, Jiang.
Methods and apparatus for conetilted parallel sampling and reconstruction [Текст] / Jiang Hsieh ; General Electric Co. - № 09/371352 ; Заявл. 10.08.1999 ; Опубл. 17.07.2001
Перевод заглавия: Методы и аппарат для конусно-наклонного, параллельного [стробирования] и реконструкции
Аннотация: Предложены методы и аппарат для генерации изображения, использующие цифровой, плоский панельный детектор там, где заданная последовательность задержки запуска используется для получения набора параллельных и наклонно-параллельных образцов. После чего генерируется изображение посредством использования алгоритма реконструкции наклонно-параллельных пучков. Предложенные метод и аппарат используются в КТ для получения объемных изображений. Ил. 6. Библ. 3

ГРНТИ	34.57.15

ВИНИТИ 341.57.15.99 + 341.57.23.99
Рубрики: АППАРАТУРА
ДЕТЕКТОР
СТРОБИРОВАНИЕ
РЕКОНСТРУКЦИЯ
НАКЛОННО-ПАРАЛЛЕЛЬНЫЕ ПУЧКИ
КОМПЬЮТЕРНАЯ ТОМОГРАФИЯ

Доп.точки доступа:
General Electric Co.
Свободных экз. нет

"Электронные каталоги и базы данных библиотек СО РАН"

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)

rtvarBDview(" результаты поиска","20190607010228","4682442");

Вид поиска