СибНСХБ

Вид поиска

Область поиска

Найдено в других БД

Формат представления найденных документов:
библиографическое описание	краткий	полный

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>S=ДИАГНОСТИКА НЕДОСТАТКОВ<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

Патент 7104690 Соединенные Штаты Америки, МКИ G01D 18/00.

Radley, Ian.
Diagnosing system for an X-ray source assembly [Текст] / Ian Radley, Michael D. Moore ; X-ray Optical Systems, Inc. - № 11/042602 ; Заявл. 25.01.2005 ; Опубл. 12.09.2006
Перевод заглавия: Диагностическая система для комплекса источников рентгеновского излучения
Аннотация: Разработана система диагностики состояния источников рентгеновского излучения со способностью к накоплению и обработке информации об оперативных состояниях и к выявлению недостатков в компонентах источников. Коммуникативные системы обеспечивают предупреждение о недостатках. Ил. 4. Библ. 5

ГРНТИ	34.49.33

ВИНИТИ 341.49.33.13.13
Рубрики: РЕНТГЕНТЕХНИКА
ИСТОЧНИКИ ИЗЛУЧЕНИЯ
ДИАГНОСТИКА НЕДОСТАТКОВ

Доп.точки доступа:
Moore, Michael D.; X-ray Optical Systems; Inc.
Свободных экз. нет

ГРНТИ	34.57.15

ВИНИТИ 341.57.15.99
Рубрики: РЕНТГЕНТЕХНИКА
ИСТОЧНИКИ ИЗЛУЧЕНИЯ
ДИАГНОСТИКА НЕДОСТАТКОВ

Доп.точки доступа:
Moore, Michael D.; X-ray Optical Systems; Inc.
Свободных экз. нет

"Электронные каталоги и базы данных библиотек СО РАН"

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)

rtvarBDview(" результаты поиска","20190607010228","4682442");

Вид поиска