СибНСХБ

Вид поиска

Область поиска

Найдено в других БД

Формат представления найденных документов:
библиографическое описание	краткий	полный

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>S=РАДИАЦИОННО-ИНДУЦИРОВАННЫЕ СБОИ<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

Вид документа : Статья из журнала

РЖ ВИНИТИ 34 (BI36) 95.05-04А4.169

Автор(ы) : Normand E.
Заглавие : A compasion of two different types of geosynchronous satellite measurements during the 1989 solar proton events : [Pap.] Top. Meet. COSPAR Interdisc. Sci. Commiss. F(Meet. F1) COSPAR 29th Plen. Meet. "Life Sci. and Space Res. XXV. Pt 2. Radiat. Biol.", Washington, D. C., 28 Aug. - 5 Sept., 1992
Источник статьи : Adv. Space Res. - 1994. - Vol. 14, N 10. - С. 695-699
Аннотация: Проанализированы данные по характеристикам потока протонов от солнечной вспышки, полученные на борту спутника GOES-7, к-рый находился на геосинхронной орбите. Эти данные были использованы для вычисления вероятности радиационно-индуцированных сбоев бортовой микроэлектроники. Полученные результаты сравниваются с экспериментальными данными по кол-ву таких же сбоев для 8 полупроводниковых чипов, установленных на борту находившегося на той же орбите спутника TDRS-1. Отмечается удовлетворительное совпадение обоих систем результатов измерений. США, Boeing Defense and Space Group, Seattle, WA 98124-2499. Ил. 4. Библ. 16.
ГРНТИ : 34.49.29
Предметные рубрики: ПРОТОНЫ
СОЛНЕЧНЫЕ ВСПЫШКИ
ГЕОСИНХРОННЫЕ СПУТНИКОВЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ
БОРТОВАЯ МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
РАДИАЦИОННО-ИНДУЦИРОВАННЫЕ СБОИ
Дата ввода:

Вид документа : Статья из журнала

РЖ ВИНИТИ 34 (BI36) 95.04-04А4.141

Автор(ы) : Mullen E.G., Ray K.P.
Заглавие : Microelectronics effects as seen on CRRES : [Pap.] Top. Meet. COSPAR Interdisc. Sci. Commiss. F (Meet. F1) COSPAR 29th Plen. Meet. "Life Sci. and Space Res. XXV. Pt 2. Radiat. Biol.", Washington, D. C., 28 Aug.- 5 Sept., 1992
Источник статьи : Adv. Space Res. - 1994. - Vol. 14, N 10. - С. 797-807
Аннотация: Представлены основные результаты измерений дозы полной деградации по кол-ву одиночных (обратимых) сбоев для микроэлектронных чипов 60 различных типов, размещенных на борту беспилотного спутника CRRES с орбитой между высотами 350-36 000 км и угловым наклонением 18'ГРАДУС'. Измерения проводились с июля 1990 по окт. 1991 гг.; одновременно на том же спутнике регистрировались спектры тяжелых заряженных частиц галактической компоненты космического излучения, фон от к-рой в этот период был минимальным. Показано, что кол-во одиночных сбоев вследствие воздействия протонов при пересечении внутреннего радиационного пояса Земли возрастало на 'ЭКВИВ'2 порядка по сравнению с пространством выше обоих поясов. Сделан вывод, что для космических аппаратов, находящихся на таких высотах, необходима устойчивая к радиационным дефектам микроэлектроника. США, Phillips Lab., PL/ /GPSP Hanscom AFB, MA 01731. Ил. 7. Табл. 2. Библ. 11.
ГРНТИ : 34.49.29
Предметные рубрики: КОСМИЧЕСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ
СПУТНИКОВЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ
БОРТОВАЯ МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
РАДИАЦИОННО-ИНДУЦИРОВАННЫЕ СБОИ
Дата ввода:

"Электронные каталоги и базы данных библиотек СО РАН"

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)

rtvarBDview(" результаты поиска","20190607010228","4682442");

Вид поиска